*/
  • BugGOLF
  • ranking : สมาชิกทั่วไป
  • email : dosem24hr@hotmail.com
  • วันที่สร้าง : 2012-08-07
  • จำนวนเรื่อง : 86
  • จำนวนผู้ชม : 309960
  • จำนวนผู้โหวต : 86
  • ส่ง msg :
  • โหวต 86 คน
Amazing Scanning Electron Microscope

มหัศจรรย์ของ Scanning Electron Microscope

View All
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM ที่คุณรู้จัก
JEOL
11 คน
HITACHI
2 คน
SHIMADZU
0 คน
FEI ( Philips )
2 คน
CARL ZEISS ( LEO )
2 คน
CAMSCAN
1 คน
TESCAN
2 คน
TOPCON
1 คน
ยี่ห้ออื่นๆ ค่ะ
1 คน

  โหวต 22 คน
วันอังคาร ที่ 15 กันยายน 2558
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 1793 , 14:54:36 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

วิเคราะห์ตำหนิตัวถังรถยนต์ ตัวถังมอเตอร์ไซด์  ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEMและเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX เป็นการวิเคราะห์ความเสียหาย ตำหนิ รอย คราบ Contamination ที่เกิดจากขั้นตอนขบวนการผลิตขั้นตอนการประกอบ กลุ่มAuto Parts โดยที่ ตำหนิ รอย คราบ Contamination ต่างๆจะติดอยู่กับชิ้นส่วนต่างๆของ Auto Parts เราจะนำมาวิเคราะห์ทางวิทยาศาสตร์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป SEM และวิเคราะห์ธาตุด้....

อ่านต่อ

วันเสาร์ ที่ 22 มิถุนายน 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 1339 , 11:06:55 น.  
หมวด : ส่งการบ้านครู

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนอุตสาหกรรม แบบไม่ทำลายตัวอย่างการวิเคราะห์แบบไม่ทำลายตัวอย่าง บทวิเคราะห์นี้หมายถึง การที่เรานำตัวอย่างมาทดสอบด้วย กล้องจุลทรรศน์จุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปหรือเครื่อง SEM นั้น เราจะไม่นำตัวอย่างไป ฉาบเคลือบสารใดๆให้ตัวอย่างนั้นนำไฟฟ้าเลย ไม่ว่าจะฉาบเคลือบด้วยคาร์บอน,ทอง,พาลาเดียม หรือไททาเนียม เราสามารถนำตัวอย่างที่ว....

อ่านต่อ

วันอังคาร ที่ 16 เมษายน 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 966 , 18:21:43 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

Detector Cool Down สำหรับเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX บทความนี้ Do SEM ขอขอบคุณคุณกอล์ฟ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com  หลังจากเทศกาลหยุดยาวไม่ว่าจะวันปีใหม่ วันสงกรานต์ สำหรับท่านที่ใช้เครื่อง วิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX ที่ได้ทำ Detector warm up ตัวตรวจจับ(Detector)ไว้ก่อนหน้านี้ โดยที่ Detector ที่ว่าเป็นแบบจะต้องเติม LN2 ในโตรเจนเหลวไว้ตลอดเวลา แต่ถ้าไม่ต้องการใช้ หรือไม่มี LN....

อ่านต่อ

วันพฤหัสบดี ที่ 11 เมษายน 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 673 , 15:33:18 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

Detector warm upบทความนี้ Do SEM ขอขอบคุณคุณกอล์ฟ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com  เมื่อถึงเทศกาลหยุดยาวไม่ว่าจะวันปีใหม่ วันสงกรานต์ สำหรับท่านที่ใช้เครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX ที่ตัวตรวจจับ(Detector) เป็นแบบจะต้องเติม LN2 ในโตรเจนเหลวไว้ตลอดเวลา กับเครื่อง EDS OXFORD Link ISIS 200/300ถ้าไม่มีใครคอยเติม LN2 ช่วงวันหยุดละก็ มีวิธีมาแนะนำครับ ส่วนท่านที่ใช้ EDS INCA Series ไม....

อ่านต่อ

วันพุธ ที่ 3 เมษายน 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 1337 , 18:54:59 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

EDS ,EDX resolution check มาเช็คสุขภาพเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS,EDX กัน บทความนี้ขอขอบคุณคุณกอล์ฟ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com สำหรับ End User ที่ใช้เครื่องวิเคราะห์ธาตุ Oxford Link ISIS รุ่นนี้ End User สามารถเช็คด้วยตัวเองได้ แต่ถ้าเป็นรุ่นสูงกว่านี้ไม่ว่าจะเป็นรุ่น INCA series และ AZtec series ในส่วนEnd User ไม่สามารถทำได้เพราะต้องใช้ Engineer password (สำหรับ Enginee เท....

อ่านต่อ

วันอาทิตย์ ที่ 24 มีนาคม 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 974 , 11:44:43 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

CAMEO Qualitative phase Image AnalysisCAMEO คือเทคนิคการวิเคราะห์เฟสของวัสดุ เชิงคุณภาพด้วยเครื่อง EDS,EDX เหมาะสำหรับตัวอย่างขัดเรียบ, งานหล่อ,เหล็กหล่อ,งานฉาบเคลือบสีและวัสดุ และอื่นๆที่ต้องการเช็คเฟส(Phase analysis)ตามตัวอย่างที่นำเสนอไม่ได้ขัดเรียบ แต่นำมาวิเคราะห์ให้ดู เป็นไกด์แนะแนวทางในการวิเคราะห์หาเฟสตามภาพด้านล่างถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท....

อ่านต่อ

วันเสาร์ ที่ 9 มีนาคม 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 1010 , 14:44:44 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

การวิเคราะห์ธาตุ ตามแนวกำหนดเส้นส่องกราดแบบ Line scan การทำ Line scan เหมาะสำหรับงาน cross section, Coating, เหล็กหล่อที่ไม่เป็นเนื้อเดียวกัน, งานวิเคราะห์รอยแตก รอยแยก,คราบปนเปื้อนของชิ้นงาน,วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ และอื่นๆ   ตามภาพด้านล่างถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 500 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน)หรือ 0.05 มิลลิเมตร ถ่ายในโหมด H....

อ่านต่อ

วันอังคาร ที่ 5 มีนาคม 2556
Posted by BugGOLF , ผู้อ่าน : 3062 , 10:55:35 น.  
หมวด : วิทยาศาสตร์/ไอที

พิมพ์หน้านี้
โหวต 1 คน

การวิเคราะห์การกระจายตัว และหาตำแหน่งของสาร/ธาตุ ด้วยวิธีการ Mappingภาพที่เราถ่ายจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด และแบบส่องผ่านบางเครื่องบางรุ่น และ จากเครื่อง FE-SEM , EPMA เราจะได้ภาพเป็น SEI (Secondary Electron Image) เป็นหลักและรอง ต่อมาคือภาพแบบ BEI (Backscattered Electron Image) ภาพนี้เป็นภาพที่ได้จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ซึ่งเราจะได้รายละเอียด ทางกายภาพ ลักษ....

อ่านต่อ


/2